場(chǎng)效應(yīng)管失效分析:專業(yè)解析與解決方案
在最近的一個(gè)案例中,廣東省華南檢測(cè)技術(shù)有限公司接到了一個(gè)緊急任務(wù):某場(chǎng)效應(yīng)管在測(cè)試過程中出現(xiàn)了電壓波動(dòng),導(dǎo)致電源失效。客戶迫切需要我們找出問題根源。場(chǎng)效應(yīng)管失效分析是電子設(shè)備可靠性的關(guān)鍵,對(duì)于確保產(chǎn)品性能和安全至關(guān)重要。
場(chǎng)效應(yīng)管失效分析過程:深入探究場(chǎng)效應(yīng)管失效
1. 外觀檢查
首先,我們使用光學(xué)顯微鏡對(duì)場(chǎng)效應(yīng)管進(jìn)行了外觀檢查。結(jié)果顯示,不良品的膠身印字及印字位置與良品不一致,且不良品膠身及引腳處均有焊錫/助焊劑殘留。這些細(xì)節(jié)差異可能暗示了制造過程中的潛在問題。
2. X-Ray測(cè)試
接下來,我們進(jìn)行了X-Ray測(cè)試。X射線檢查顯示不良品內(nèi)部結(jié)構(gòu)與良品一致,但在中間位置發(fā)現(xiàn)了明顯的異樣。這一發(fā)現(xiàn)指向了可能的內(nèi)部缺陷。
3. 電性能測(cè)試
通過I-V曲線測(cè)試(電流500uA/電壓500mV),我們發(fā)現(xiàn)不良品3-2腳開路,2-1腳短路,而良品3-2腳正常,2-1腳開路狀態(tài)不一致。這表明不良品存在電性能異常。
4. 聲學(xué)掃描顯微鏡檢查
聲學(xué)掃描顯微鏡檢查進(jìn)一步揭示了不良品芯片表面與塑封料結(jié)合處分層的現(xiàn)象,這可能是導(dǎo)致電性能異常的物理原因。
5. 化學(xué)開封后內(nèi)部目檢
最后,化學(xué)開封后內(nèi)部目檢顯示不良品芯片表面有燒傷痕跡,呈現(xiàn)出明顯的過電應(yīng)力特征形貌。這一發(fā)現(xiàn)為我們提供了失效的直接證據(jù)。
場(chǎng)效應(yīng)管失效分析結(jié)果:場(chǎng)效應(yīng)管失效的結(jié)論
綜合外觀檢查、X-射線檢查、I-V曲線測(cè)試、聲學(xué)掃描顯微鏡檢查以及化學(xué)開封后內(nèi)部目檢的結(jié)果,我們得出結(jié)論:不良品因EOS(過電應(yīng)力)擊穿導(dǎo)致芯片燒毀失效。這一結(jié)論不僅為客戶解決了當(dāng)前問題,也為未來的產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造提供了寶貴的參考。
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廣東省華南檢測(cè)技術(shù)有限公司專注于失效分析、材料分析、成分分析、可靠性測(cè)試、配方分析等檢測(cè)分析服務(wù),擁有CMA和CNAS資質(zhì)。公司坐落于東莞大嶺山鎮(zhèn),鄰近松山湖高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū),配備了行業(yè)內(nèi)先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備和專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)。華南檢測(cè)技術(shù)有限公司的客戶涵蓋多個(gè)行業(yè),包括半導(dǎo)體、電子元件、納米材料、通信、新能源、汽車、航空航天、教育和科研等領(lǐng)域。