EDS能譜儀能測多深?
在日常檢測中,有客戶委托EDS測試,樣品是電鍍工件上的殘留物,殘留物未鎳鍍層,深度3微米,想測試內部元素的成分,今天我們就來詳細介紹一下X射線能譜的知識,X射線能譜:英文全稱是Energy Dispersive Spectroscopy,簡稱EDS,眾所周知,EDS經常與掃描電鏡,透射電鏡聯合使用,是一種分析物質元素常見的儀器,EDS的檢測極限在0.1%,只能做半定量分析,精度一般在1%到5%,深度一般為1微米左右,EDS做微區分析時所激發的體積為10um3 左右。
EDS原理
經過加速的聚焦電子束與樣品互相作用時,高能電子束轟擊樣品成分的內層電子,內層電子獲得能量向外層電子躍遷,發生馳豫,此時內層電子缺少,因此外層電子補充回內層時,有一個能量剩余,這一剩余能量以X光子的形式發射出來。不同元素的電子層之間的能量不同,因此可根據這些特征X射線知道其組成元素,根據峰的強度可知道其相對含量。
X射線能譜儀的原理
X光子的能量在Si晶體中形成電子-空穴對,偏壓收集它們形成一個電荷脈沖,經電荷靈敏前置放大器又將其轉變成電壓脈沖,然后由脈沖器進一步放大成形,最后由模數變換器(ADC)和多道分析器(MCA)根據電壓值將脈沖分類而得到X射線能譜圖。
X射線能譜分析的特點
分析樣品廣泛:樣品固體試樣、無磁性、在電子束下具有一定的化學和物理穩定性;
無損分析;
定點分析、線分布、面分布;
譜圖收集過程快,同時記錄整個譜圖(11Na--92U);超薄窗可檢測元素范圍:4Be-- 92U;
能譜分析主要用于常量成分的分析,而微量元素分析誤差大;
液氮杜瓦瓶:為了降低探測器的噪音以及防止半導體中的鋰在探頭中的擴散,用液氮把探頭和FET(場效應晶體管)冷卻到大約100K;
譜峰重疊多,結合波譜分析。
EDSX射線能譜分析的特點
分析樣品廣泛:樣品固體試樣、無磁性、在電子束下具有一定的化學和物理穩定性;
無損分析;
定點分析、線分布、面分布;
譜圖收集過程快,同時記錄整個譜圖(11Na--92U);超薄窗可檢測元素范圍:4Be-- 92U;
能譜分析主要用于常量成分的分析,而微量元素分析誤差大;
液氮杜瓦瓶:為了降低探測器的噪音以及防止半導體中的鋰在探頭中的擴散,用液氮把探頭和FET(場效應晶體管)冷卻到大約100K;
譜峰重疊多,結合波譜分析。
檢測極限:0.1%,只能做半定量分析,精度一般在1%到5%,深度一般為1微米左右,EDS做微區分析時所激發的體積為10um3 左右。
EDS結果解析
通常給出單質形式的報告,結果中一列代表重量百分比,一列代表原子個數百分比,也即是摩爾數比,兩者可以互換計算得到,其橋梁就是原子量。數據通常是給出所能檢測的元素的歸一化結果;但對于有機化合物通常給出非歸一化的結果,即是該元素占該物質的大概百分比。
通常礦物以氧化物形式報告結果,但氧并非檢測到的,而是元素通過一定的化學計量配比上去而得到的。
X射線能譜儀的應用
各學科的科學研究中:物理、化學、地質礦物學、生命科學、醫學等學科;
生產過程中產品質量監控、缺陷分析,異常成分分析等;
其它方面:刑事偵察、海關、首飾鑒定等等。
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