場(chǎng)效應(yīng)管失效分析(華南檢測(cè)案例分析)
場(chǎng)效應(yīng)管(FET)作為現(xiàn)代電子設(shè)備中不可或缺的組件,以其高輸入電阻、低噪聲、低功耗等優(yōu)勢(shì),在半導(dǎo)體器件領(lǐng)域占據(jù)著重要地位。然而,即使是這樣高效的元件,也難免會(huì)遇到失效問(wèn)題。最近,廣東省華南檢測(cè)技術(shù)有限公司就對(duì)一起汽車客戶產(chǎn)品中發(fā)現(xiàn)的場(chǎng)效應(yīng)管短路問(wèn)題進(jìn)行了深入分析。
通過(guò)對(duì)兩個(gè)不良品的外觀檢查,發(fā)現(xiàn)其中一個(gè)樣品表面存在炸裂后的開孔,而另一個(gè)則無(wú)明顯異常。進(jìn)一步的X-Ray檢查揭示了問(wèn)題的嚴(yán)重性:一個(gè)樣品的源極線被燒斷,顯示出電過(guò)應(yīng)力(EOS)的跡象。電性能測(cè)試確認(rèn)了兩個(gè)樣品均出現(xiàn)了電阻性短路。
化學(xué)開封分析進(jìn)一步確認(rèn)了EOS的存在,而深入的2D-3D X-RAY檢測(cè)揭示了短路的根本原因:銀膠爬上了芯片表面,導(dǎo)致了短路現(xiàn)象。最終確認(rèn),柵極表面鋁層的炸裂飛濺是由于過(guò)電流EOS,而銀膠粘面則是鋁層突發(fā)短路的直接原因。
這次失效分析不僅揭示了場(chǎng)效應(yīng)管失效的具體原因,也為未來(lái)的檢測(cè)工作提供了寶貴的經(jīng)驗(yàn)。要有效識(shí)別電阻性短路問(wèn)題,需要提高X-ray設(shè)備的分辨率和對(duì)比度,并通過(guò)多角度拍攝來(lái)捕捉異常情況。廣東省華南檢測(cè)技術(shù)有限公司憑借其專業(yè)的檢測(cè)技術(shù)和先進(jìn)的進(jìn)口檢測(cè)設(shè)備,為電子元件的可靠性檢測(cè)和失效分析提供了強(qiáng)有力的支持。
在電子行業(yè)快速發(fā)展的今天,對(duì)電子元件的質(zhì)量和可靠性要求越來(lái)越高。廣東省華南檢測(cè)技術(shù)有限公司的這次分析案例,不僅展示了其在電子元件失效分析領(lǐng)域的專業(yè)能力,也為行業(yè)提供了一個(gè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性的參考。通過(guò)不斷的技術(shù)創(chuàng)新和服務(wù)優(yōu)化,華南檢測(cè)技術(shù)有限公司致力于幫助客戶降低產(chǎn)品失效風(fēng)險(xiǎn),提升市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。
下面就是廣東省華南檢測(cè)技術(shù)有限公司如何進(jìn)行場(chǎng)效應(yīng)管失效分析流程和分析的案例。
某汽車客戶在同批次產(chǎn)品中發(fā)現(xiàn)2PCS短路不良品,根據(jù)要求分析其短路原因。
一、場(chǎng)效應(yīng)管失效分析流程
1.OM顯微鏡外觀檢查
通過(guò)OM顯微鏡觀察,外觀檢查2#表面有炸裂后形成的開孔。其他無(wú)明顯異常。
1#樣品外觀圖
2#樣品外觀圖
2.X-Ray檢查
X-ray檢查1#無(wú)明顯外觀異常,但是2#明顯可見源極線被燒斷,具有EOS的表現(xiàn)。
1#樣品X-Ray 形貌圖
2#樣品X-Ray 形貌圖
3.電性能分析
電特性曲線測(cè)試:2PCS 不良品均為IDSS,IGSS電阻性短路。
1#電性曲線圖
2#電性曲線圖
4.化學(xué)開封分析
對(duì)1#,2#不良品做化學(xué)開封分析,結(jié)果顯示為EOS壞品。
1#樣品開封后形貌圖
2#樣品開封后形貌圖
5.2D&3D X-RAY檢測(cè)的深入分析
2D&3D X-RAY檢測(cè):2#圖中陰影其實(shí)不是錫,而是銀膠,已經(jīng)爬上了Die面,造成短路。
2#樣品深入分析
6.最終確認(rèn)
2#柵極表面鋁層炸裂飛濺是其發(fā)生過(guò)電流EOS的根本原因,而銀膠粘面又是鋁層突發(fā)短路的根本原因。粘面的銀膠分布在柵極表面與漏極邊緣,兩極之間僅靠鈍化層隔絕,在鈍化層突然被擊穿后,柵極電位陡增,造成漏極和源極以極低電阻導(dǎo)通,從而造成了過(guò)電流,使得芯片和源極導(dǎo)線燒毀熔斷。
2#樣品最終確認(rèn)
二、場(chǎng)效應(yīng)管失效分析結(jié)論
1. 1#不良品的失效部位和現(xiàn)象與2#類似,應(yīng)該是同樣失效機(jī)理和表現(xiàn),只是因?yàn)殂y膠量更少,X-RAY不能發(fā)現(xiàn)異常。而化學(xué)開封過(guò)程中已經(jīng)將銀顆粒蝕去,只留下明顯的burn mark和碳化膠粉。無(wú)法再進(jìn)行確認(rèn)。
2. 對(duì)此類電阻性短路壞品的分析方法需要提高X-ray機(jī)的分辨率和對(duì)比度,從多側(cè)面以最佳角度拍攝才能捕捉到異常進(jìn)行確認(rèn)。
華南檢測(cè):http://www.mflqismx.cn/websiteMap
廣東省華南檢測(cè)技術(shù)有限公司專注于工業(yè)CT檢測(cè)\失效分析\材料檢測(cè)分析的先進(jìn)制造實(shí)驗(yàn)室,設(shè)立了無(wú)損檢測(cè)、材料分析、化學(xué)分析、物理分析、切片與金相測(cè)試,環(huán)境可靠性測(cè)試等眾多實(shí)驗(yàn)室,為您提供—站式材料檢測(cè),失效分析及檢測(cè)報(bào)告,如您有工件需要做工業(yè)CT檢測(cè),您可以給出工件大小、材質(zhì)、重量,檢測(cè)要求,我們?cè)u(píng)估后會(huì)給到一個(gè)合理的報(bào)價(jià)。
熱門資訊
最新資訊
- 翻新 MLCC 毀設(shè)備?MLCC 電容器假冒翻新鑒定測(cè)試
- 金屬零件斷裂失效分析:華南檢測(cè)憑借 CMA/CNAS 資質(zhì),為制造業(yè)筑牢質(zhì)量防線
- PCBA 可靠性測(cè)試服務(wù),華南檢測(cè)守護(hù)電子制造質(zhì)量 | 華南檢測(cè)
- 內(nèi)存條電容短路失效分析:精準(zhǔn)定位源頭,保障電子質(zhì)量 | 華南檢測(cè)
- PCB板拒焊失效分析,華南檢測(cè)精準(zhǔn)定位問(wèn)題保障電子制造質(zhì)量
- 高強(qiáng)度螺栓斷裂失效分析 | 華南檢測(cè)
- 華南檢測(cè) | 玻璃封裝二極管功能失效分析
- IC 芯片可靠性測(cè)試全解析,華南檢測(cè)助您把關(guān)質(zhì)量
- 華南檢測(cè) | NTC 熱敏電阻失效分析:精準(zhǔn)定位故障,保障電路穩(wěn)定
- 華南檢測(cè):精準(zhǔn)鑒定芯片真?zhèn)危刈o(hù)電子產(chǎn)業(yè)質(zhì)量關(guān)
- PCB 可焊性測(cè)試專業(yè)指南 | 華南檢測(cè)
- 華南檢測(cè) | 斷路器損壞失效分析:精準(zhǔn)定位故障原因,保障電力系統(tǒng)穩(wěn)定
- 白光LED燈變藍(lán)失效分析 | 深度解析:白光 LED 燈變藍(lán)失效原因及解決方案
- 華南檢測(cè)深度剖析 SMT導(dǎo)電泡棉翹焊接不良失效原因
- 芯片引腳共面性檢測(cè),華南檢測(cè)保障 SMT 質(zhì)量關(guān)鍵一環(huán)
- 工業(yè)CT檢測(cè),華南檢測(cè)為您揭開材料內(nèi)部的“隱藏真相”
- 華南檢測(cè):深度解析傳感器短路燒毀失效原因
- 貼片陶瓷電容短路失效分析,華南檢測(cè)給出深度解答
- 觸發(fā)器失效分析,華南檢測(cè)精準(zhǔn) “把脈” 電子元件 | 華南檢測(cè)
- 水性產(chǎn)品測(cè)試分析服務(wù),專業(yè)解決方案提供商 | 華南檢測(cè)