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場(chǎng)效應(yīng)管失效分析(華南檢測(cè)案例分析)

發(fā)布日期:2024-06-28閱讀量:713
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  • 場(chǎng)效應(yīng)管(FET)作為現(xiàn)代電子設(shè)備中不可或缺的組件,以其高輸入電阻、低噪聲、低功耗等優(yōu)勢(shì),在半導(dǎo)體器件領(lǐng)域占據(jù)著重要地位。然而,即使是這樣高效的元件,也難免會(huì)遇到失效問(wèn)題。最近,廣東省華南檢測(cè)技術(shù)有限公司就對(duì)一起汽車客戶產(chǎn)品中發(fā)現(xiàn)的場(chǎng)效應(yīng)管短路問(wèn)題進(jìn)行了深入分析

    場(chǎng)效應(yīng)管失效分析

    通過(guò)對(duì)兩個(gè)不良品的外觀檢查,發(fā)現(xiàn)其中一個(gè)樣品表面存在炸裂后的開孔,而另一個(gè)則無(wú)明顯異常。進(jìn)一步的X-Ray檢查揭示了問(wèn)題的嚴(yán)重性:一個(gè)樣品的源極線被燒斷,顯示出電過(guò)應(yīng)力(EOS)的跡象。電性能測(cè)試確認(rèn)了兩個(gè)樣品均出現(xiàn)了電阻性短路。

    化學(xué)開封分析進(jìn)一步確認(rèn)了EOS的存在,而深入的2D-3D X-RAY檢測(cè)揭示了短路的根本原因:銀膠爬上了芯片表面,導(dǎo)致了短路現(xiàn)象。最終確認(rèn),柵極表面鋁層的炸裂飛濺是由于過(guò)電流EOS,而銀膠粘面則是鋁層突發(fā)短路的直接原因。

    場(chǎng)效應(yīng)管失效分析

    這次失效分析不僅揭示了場(chǎng)效應(yīng)管失效的具體原因,也為未來(lái)的檢測(cè)工作提供了寶貴的經(jīng)驗(yàn)。要有效識(shí)別電阻性短路問(wèn)題,需要提高X-ray設(shè)備的分辨率和對(duì)比度,并通過(guò)多角度拍攝來(lái)捕捉異常情況。廣東省華南檢測(cè)技術(shù)有限公司憑借其專業(yè)的檢測(cè)技術(shù)和先進(jìn)的進(jìn)口檢測(cè)設(shè)備,為電子元件的可靠性檢測(cè)和失效分析提供了強(qiáng)有力的支持。

    場(chǎng)效應(yīng)管失效分析

    在電子行業(yè)快速發(fā)展的今天,對(duì)電子元件的質(zhì)量和可靠性要求越來(lái)越高。廣東省華南檢測(cè)技術(shù)有限公司的這次分析案例,不僅展示了其在電子元件失效分析領(lǐng)域的專業(yè)能力,也為行業(yè)提供了一個(gè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性的參考。通過(guò)不斷的技術(shù)創(chuàng)新和服務(wù)優(yōu)化,華南檢測(cè)技術(shù)有限公司致力于幫助客戶降低產(chǎn)品失效風(fēng)險(xiǎn),提升市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。

    場(chǎng)效應(yīng)管失效分析


    下面就是廣東省華南檢測(cè)技術(shù)有限公司如何進(jìn)行場(chǎng)效應(yīng)管失效分析流程和分析的案例。

    某汽車客戶在同批次產(chǎn)品中發(fā)現(xiàn)2PCS短路不良品,根據(jù)要求分析其短路原因。

    場(chǎng)效應(yīng)管失效分析


    一、場(chǎng)效應(yīng)管失效分析流程


    1.OM顯微鏡外觀檢查

    通過(guò)OM顯微鏡觀察,外觀檢查2#表面有炸裂后形成的開孔。其他無(wú)明顯異常。

    場(chǎng)效應(yīng)管失效分析

    1#樣品外觀圖

    場(chǎng)效應(yīng)管失效分析

    2#樣品外觀圖


    2.X-Ray檢查

    X-ray檢查1#無(wú)明顯外觀異常,但是2#明顯可見源極線被燒斷,具有EOS的表現(xiàn)。


    場(chǎng)效應(yīng)管失效分析

    1#樣品X-Ray 形貌圖

    場(chǎng)效應(yīng)管失效分析

    2#樣品X-Ray 形貌圖


    3.電性能分析

    電特性曲線測(cè)試:2PCS 不良品均為IDSS,IGSS電阻性短路。

    場(chǎng)效應(yīng)管失效分析

    1#電性曲線圖

    場(chǎng)效應(yīng)管失效分析

    2#電性曲線圖


    4.化學(xué)開封分析

    對(duì)1#,2#不良品做化學(xué)開封分析,結(jié)果顯示為EOS壞品。

    場(chǎng)效應(yīng)管失效分析

    1#樣品開封后形貌圖


    場(chǎng)效應(yīng)管失效分析

    2#樣品開封后形貌圖


    5.2D&3D X-RAY檢測(cè)的深入分析

    2D&3D X-RAY檢測(cè):2#圖中陰影其實(shí)不是錫,而是銀膠,已經(jīng)爬上了Die面,造成短路。

    場(chǎng)效應(yīng)管失效分析

    2#樣品深入分析


    6.最終確認(rèn)

    2#柵極表面鋁層炸裂飛濺是其發(fā)生過(guò)電流EOS的根本原因,而銀膠粘面又是鋁層突發(fā)短路的根本原因。粘面的銀膠分布在柵極表面與漏極邊緣,兩極之間僅靠鈍化層隔絕,在鈍化層突然被擊穿后,柵極電位陡增,造成漏極和源極以極低電阻導(dǎo)通,從而造成了過(guò)電流,使得芯片和源極導(dǎo)線燒毀熔斷。

    image.png

    2#樣品最終確認(rèn)


    二、場(chǎng)效應(yīng)管失效分析結(jié)論

    1. 1#不良品的失效部位和現(xiàn)象與2#類似,應(yīng)該是同樣失效機(jī)理和表現(xiàn),只是因?yàn)殂y膠量更少,X-RAY不能發(fā)現(xiàn)異常。而化學(xué)開封過(guò)程中已經(jīng)將銀顆粒蝕去,只留下明顯的burn mark和碳化膠粉。無(wú)法再進(jìn)行確認(rèn)。

    2. 對(duì)此類電阻性短路壞品的分析方法需要提高X-ray機(jī)的分辨率和對(duì)比度,從多側(cè)面以最佳角度拍攝才能捕捉到異常進(jìn)行確認(rèn)。

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    廣東省華南檢測(cè)技術(shù)有限公司專注于工業(yè)CT檢測(cè)\失效分析\材料檢測(cè)分析的先進(jìn)制造實(shí)驗(yàn)室,設(shè)立了無(wú)損檢測(cè)、材料分析、化學(xué)分析、物理分析、切片與金相測(cè)試,環(huán)境可靠性測(cè)試等眾多實(shí)驗(yàn)室,為您提供—站式材料檢測(cè),失效分析及檢測(cè)報(bào)告,如您有工件需要做工業(yè)CT檢測(cè),您可以給出工件大小、材質(zhì)、重量,檢測(cè)要求,我們?cè)u(píng)估后會(huì)給到一個(gè)合理的報(bào)價(jià)。

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