華南檢測實驗室 | 切片分析流程及應用
金相切片(cross-section, x-section)即切片,將樣品使用特制的液態樹脂包裹固封,然后進行研磨拋光(或者化學拋光、電化學拋光)的一種制樣的方法。通過切片可以得到樣品的內部某個剖面,并且通過該剖面了解到內部的成分以及組織結構等方面的信息。
應用范圍
主要適用電子元器件結構剖析、金屬/非金屬材料鍍層厚度的測量、印制線路板/組裝板的異常狀態分析、汽車零部件及配件的缺陷檢測等。
測試流程
取樣:對待檢樣品外觀進行觀察并拍照
切割/清洗:用切割機切割下待測位置的試樣和清潔樣品
真空鑲嵌:采用冷鑲嵌的方式,將鑲嵌液和固化劑按合適比例攪拌合適后倒在模具中,并放入真空泵中抽真空,以趕走試樣中的氣泡
研磨:采用粗細不同目數砂紙,分別進行粗磨、精磨等處理
拋光:采用拋光織物(帶膠拋光絲絨,精拋絨等)+拋光劑(如Al粉液或金剛石液)等進行粗拋和精拋工作
微蝕:用配置的腐蝕液對切片進行腐蝕處理,使得切片試樣內部組織形貌凸顯出來;便于觀察和后續的檢測
觀察(金相顯微鏡或掃描電鏡):選擇合適倍率的顯微鏡,依據檢測要求,觀察和分析切片的形貌,并輸出圖像
其他檢測(如能譜分析、顯微紅外檢測)
報告輸出
切片分類
按照研磨方向可分為垂直切片和水平切片
?垂直切片:常用于觀察樣品內部結構缺陷(PCB分層、孔銅斷裂、LED結構剖析等)以及微小尺寸測量(氣孔大小、鍍層厚度、上錫高度等),是切片分析中最常見的方式;
圖1-1:垂直切片
?水平切片:通常用于輔助垂直切片進行品質異常判斷(BGA空焊、虛焊、孔洞等)。
圖1-2:水平切片
案例展示
圖2-1:電容內部結構裂痕
圖2-2:鍍層厚度測量
圖2-3:不良位置切片微觀形貌
圖2-4:分層界面
廣東省華南檢測技術有限公司是一家專注于電子器件失效分析,可靠性檢測的第三方檢測實驗室,為您提供—站式材料檢測,失效分析及可靠性檢測報告,咨詢電話:13926867016(微信同號)。
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