元器件篩選檢測服務
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華南檢測可滿足各等級元器件篩選方案設計和檢測需求,提供電子元器件測試、評估、質量保證的成套方案,幫助企業及時發現和剔除有缺陷、易發生早期失效的元器件,提高電子元器件的使用可靠性,保障和支撐電子裝備可靠性提升。 | ![]() |
元器件篩選服務范圍
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電子元件:電阻、電容、電感、繼電器、磁珠、變壓器、晶體振蕩器、晶體諧振器、繼電器、電連接器等;
半導體分立器件:二極管、三極管、MOS管、IGBT、場效應管、達林頓陣列、半導體光電子器件等;
半導體集成電路:CPU、存儲器、FPGA、AD/DA、數字電路、模擬電路、混合電路、DC/DC、時基電路、總線收發器、緩沖器、驅動器、電平轉換器、 門器件、觸發器、LVDS線收發器、運算放大器、電壓調整器、電壓?較器、 電源類芯片(穩壓器、開關電源轉換器、電源監控器、電源管理等)、數模轉換器(A/D、D/A、SRD)、存儲器、可編程邏輯器件、單片機、微處理器、 控制器等;
電子模塊:電源模塊、通訊模塊、控制模塊等具備相對功能完整電路。
元器件篩選測試項目
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●外觀檢查
●電性能測試:常溫測試/高溫測試/低溫測試
●環境/機械應力檢測:振動、低溫貯存、高溫貯存、溫度循環、溫度沖擊、恒定加速度或跌落、密封(粗檢漏、細檢漏 )、粒子碰撞噪聲檢測(PIND)
●高溫動態老煉、高溫反偏老煉、功率老煉、恒流老煉、間歇壽命老煉
●芯片超聲檢測
●X射線掃描檢測
相關資質
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元器件篩選測試標準
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GJB7243-2011軍用電子元器件篩選技術要求
GJB128A-1997半導體分立器件試驗方法
GJB360A-1996電子及電氣元件試驗方法
GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序
QJ10003- -2008進口元器件篩選指南
MIL-STD-750D半導體分立器件試驗方法
MIL-STD-883G微電子器件試驗方法和程序
測試須知———————————————————————————————————————————————————————————
1、測試所需:芯片規格書
2、可根據客戶需求提供中文報告
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